PENフィルムにおける直流絶縁破壊の強さの温度依存性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-014

グループ名: 【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集

発行日: 2012/03/05

タイトル(英語): Temperature dependence of DC breakdown strength of PEN Film

著者名: 高橋 慎吾(豊橋技術科学大学),尾関 俊介(豊橋技術科学大学),村上 義信(豊橋技術科学大学),栗本 宗明(豊橋技術科学大学),長尾 雅行(豊橋技術科学大学),吉田 哲男(帝人デュポンフィルム)

著者名(英語): Shingo Takahashi(Toyohashi University of Technology),Syunsuke Ozeki(Toyohashi University of Technology),Yoshinobu Murakami(Toyohashi University of Technology),Muneaki Kurimoto(Toyohashi University of Technology),Masayuki Nagao(Toyohashi University of Technology),Yoshida Tetsuo(Teijin DuPont Films Japan Limited)

キーワード: McKeown電極|絶縁破壊|ポリエチレンナフタレートフィルム|温度依存性

要約(日本語): 高分子フィルムを用いる部品や機器の小型化に伴い、用いられる高分子フィルムも薄い膜厚のものが望まれている。筆者らは薄いPENフィルムの絶縁破壊特性を把握するため、室温において極めて薄いフィルムの正確な絶縁破壊の強さ(Fb)を測定することができる改良型McKeown電極系を作製した。しかし、改良型McKeown電極系を用いて直流Fbの温度依存性を測定した結果、改良型McKeown電極系では電極系の熱収縮等の影響を受けFbにばらつきが生じることなどがわかった。本研究では、熱収縮等の影響を極力排除する簡易型McKeown電極系を考案し、薄いPENフィルムの直流Fbの温度依存性を測定したので報告する

原稿種別: 日本語

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