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熱劣化架橋ポリエチレンの劣化診断(I)機器分析

熱劣化架橋ポリエチレンの劣化診断(I)機器分析

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-034

グループ名: 【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集

発行日: 2012/03/05

タイトル(英語): Diagnosis of Thermal Degradation of Cross-linked Polyethylene (?) Instrumental Analyses

著者名: 山田敏太(早稲田大学)

著者名(英語): Toshita Yamada|Marina Komatsu|Ryo Sato|Yoshimichi Ohki|Maya Mizuno|Kaori Fukunaga

キーワード: X線回折|示差走査熱量分析|赤外吸収|架橋ポリエチレン|熱劣化|酸化

要約(日本語): ケーブルの高分子絶縁材料は、高温環境下で熱劣化する。化学架橋ポリエチレン(XLPE)を185℃で25~200時間加熱し、X線回折(XRD)、示差走査熱量分析(DSC)、赤外吸収を利用し機器分析測定を行った。XRDスペクトルから結晶化度、赤外吸収スペクトルから酸化度をそれぞれ算出し、加熱時間増加に伴う結晶化度低下と酸化度上昇を確認した。両者を比較した処、結晶化度と酸化度は負の相関を示した。また、DSCスペクトルも結晶化度低下の事実を明確にしている。このことからXLPEを加熱すると、酸化が進行し、結晶性が著しく低下することが認められた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 10,855 Kバイト

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