熱劣化架橋ポリエチレンの劣化診断(II)テラヘルツ分光

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-035

グループ名: 【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集

発行日: 2012/03/05

タイトル(英語): Diagnosis of Thermal Degradation of Cross-linked Polyethylene (?I) Terahertz Spectroscopy

著者名: 小松 麻理奈(早稲田大学),山田 敏太(早稲田大学),佐藤 遼(早稲田大学),水野 麻弥(情報通信研究機構),福永 香(情報通信研究機構)

著者名(英語): Marina Komatsu(Waseda University),Toshita Yamada(Waseda University),Ryo Sato(Waseda University),Maya Mizuno(National Institute of Information and Communications Technology),Kaori Fukunaga(National Institute of Information and Communications Technology)

キーワード: テラヘルツ光|ケーブル絶縁材料|架橋ポリエチレン|熱劣化|酸化|絶縁診断

要約(日本語): ケーブルの高分子絶縁材料は、高温環境下で熱劣化する。化学架橋ポリエチレンを185 ℃で25~200時間加熱し、テラヘルツ時間領域分光透過法とフーリエ変換型テラヘルツ分光光度計で20~600 cm^-1における吸収スペクトルを測定し、種々の機器分析測定結果と比較した処、48cm^-1の誘電損率ピークが試料の酸化により増大することが確かめられた。このことは高分子の熱劣化が、テラヘルツ分光により検出できる可能性を示唆している。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 3,708 Kバイト