宇宙機用絶縁材料における二次電子放出係数の測定法の開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-080

グループ名: 【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集

発行日: 2012/03/05

タイトル(英語): Development of measurement system of secondary electron emission yield of dielectric materials

著者名: 渋谷 一晃(東京都市大学),野村 和史(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学),奥村 哲平(宇宙航空研究開発機構),高橋 真人(宇宙航空研究開発機構)

著者名(英語): Shibuya Kazuaki(Tokyo City University),Nomura Kazuhumi(Tokyo City University),Miyake Hiroaki(Tokyo City University),Tanaka Yasuhiro(Tokyo City University),Okumura Teppei(JAXA),Takahashi Masato(JAXA)

キーワード: 二次電子放出|宇宙機材料|電子線

要約(日本語): 宇宙機表面に用いられる絶縁体は放射線などに曝されることで帯電・放電し、表面材料の劣化や機器の誤作動などの事故を引き起こす可能性がある。MUSCAT等の帯電解析ツールを使用して軌道上運用時の帯電量の見積もりを設計段階から行うことが求められている。それらのツールを用いた帯電解析には、光電子や二次電子放出係数などの材料物性パラメータが必要となる。そこで、当研究グループはパルス状の電子線を用い、試料に照射電子のエネルギーを制御する為の電圧印加を抑制し、照射電子のエネルギーが300 eVまでの二次電子放出を計測することができるシステムを構築したので以下に報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 755 Kバイト