紫外光照射下における酸化チタン薄膜の電子と正孔の移動度測定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-120

グループ名: 【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集

発行日: 2012/03/05

タイトル(英語): Measurement for Mobilities of Electron and Hole in TiO2 Thin Films under UV Light Irradiation

著者名: 渡邉 悠介(名城大学),村本 裕二(名城大学),清水 教之(名城大学)

著者名(英語): Yusuke Watanabe(Meijo University),Yuji Muramoto(Meijo University),Noriyuki Shimizu(Meijo University)

キーワード: 酸化チタン|移動度|電子|正孔|分離|光励起

要約(日本語): 酸化チタン(TiO2)は紫外光を吸収することで、光触媒として働く。これは紫外光によって価電子帯の電子が伝導帯に励起されると同時に正孔が生成され、これら電子と正孔が表面で酸化、還元反応を起こすことによる。従って光触媒活性とTiO2の電子的特性（抵抗率、キャリア密度、移動度）は密接に関係すると考えられる。 これまでに本研究では、電子と正孔を分離し、電子による電流と正孔による電流の測定を行い、電子の移動度と正孔の移動度の値が近いことを示してきた。本研究は、これまでの方法と、Time of Flight法と組み合わせることで、電子、正孔移動度の測定を行った。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 885 Kバイト