1
/
の
1
ZnOアレスタ素子の課電試験におけるバリア高さ変化
ZnOアレスタ素子の課電試験におけるバリア高さ変化
通常価格
¥440 JPY
通常価格
セール価格
¥440 JPY
単価
/
あたり
税込
カテゴリ: 全国大会
論文No: 6-261
グループ名: 【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集
発行日: 2012/03/05
タイトル(英語): Barrier Height Change in Life Test on ZnO Arrester Element
著者名: 津田 孝一(日本AEパワーシステムズ),三宅 純一郎(日本AEパワーシステムズ),岩井田 武(日本AEパワーシステムズ)
著者名(英語): Koichi Tsuda(J),unichiro Miyake(J),Takeshi Iwaida(J)
キーワード: 酸化亜鉛避雷器素子|課電寿命試験|ZnOアレスタ素子|C-V法|バリア高さ
要約(日本語): ZnOアレスタ素子の信頼性試験の一つに課電寿命試験があり、開発初期の素子では熱暴走に到る場合があった。寿命特性が改善された現行素子では、この試験における抵抗分漏れ電流は時間とともに減少する。しかし、現在でもこの電流減少についての理由は明確にはなっていない。 今回、筆者らが開発した実素子に適応可能なC-V測定装置にて、課電寿命試験前後、及び試験後の回復過程におけるバリア高さを調べ、電流減少はバリア高さが増加し、これに伴って電流が抑制されることを明らかにした。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 635 Kバイト
受取状況を読み込めませんでした
