真空中におけるCuCr接点のCr含有量がコンデンサ開閉性能に及ぼす影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-292

グループ名: 【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集

発行日: 2012/03/05

タイトル(英語): Influence on Capacitor Bank Switching Performance of CuCr Contact in Vacuum

著者名: 佐藤純一 (東芝),宮里 健一(東芝),捧 浩資(東芝),栗山 透(東芝),本間三孝 (東芝)

著者名(英語): Junichi Sato(Toshiba corporation),Kenichi Miyazato(Toshiba corporation),Kosuke Sasage(Toshiba corporation),Toru Kuriyama(Toshiba corporation),Mitsutaka Homma(Toshiba corporation)

キーワード: 真空バルブ|CuCr接点|コンデンサ開閉

要約(日本語): 本論文は、真空バルブで使用されるCuCr接点のCr含有量を変化させ、コンデンサ開閉性能の影響を調査したものである。Cr25mass%とCr35mass%の2種類の接点を用い、500回のコンデンサ開閉試験とその前後の耐電圧試験を実施して、その性能を比較検証した。その結果、Cr35mass%のほうが接点の損傷が小さく、コンデンサ開閉性能が優れていることが分かった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 920 Kバイト