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広帯域インピーダンス分光法によるビニルコードの導体間隔拡大箇所の位置標定

広帯域インピーダンス分光法によるビニルコードの導体間隔拡大箇所の位置標定

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-117

グループ名: 【全国大会】平成24年電気学会全国大会論文集

発行日: 2012/03/05

タイトル(英語): Location of a Portion in a PVC Cord with an Expanded Wire Distance by Broadband Impedance Spectroscopy

著者名: 山田 貴之(早稲田大学),平井 直志(早稲田大学),大木義路 (早稲田大学)

著者名(英語): Takayuki Yamada(Waseda University),Naoshi Hirai(Waseda University),Yoshimichi Ohki(Waseda University)

キーワード: 絶縁材料|ビニル平形コード|広帯域インピーダンス分光法|劣化診断|ケーブル|状態監視

要約(日本語): 塩化ビニル絶縁平形(VFF)コードの導体間を拡げた損傷に対して、広帯域インピーダンス分光(BIS)法の適用を試みた。インピーダンスアナライザを用いて、広い周波数域についてインピーダンス値、位相角をVFFコードの両端から測定し、取得データを内挿補間により測定点を増加させ、高速フーリエ逆変換(IFFT)することで損傷位置標定を行った。切り込みのない場合と比較して、インピーダンス値、位相角のIFFT結果ともに導体間隔拡大位置に明瞭なピークを確認することができる。特性インピーダンスを測定するBIS法は導体間を拡げたVFFコードに対しても損傷位置の標定が可能なことを確認した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,312 Kバイト

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