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高気圧窒素混合ガスの供給電子数の減少要因Ⅲ

高気圧窒素混合ガスの供給電子数の減少要因Ⅲ

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-028

グループ名: 【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集

発行日: 2013/03/05

タイトル(英語): Decreases of number of supplied electrons under repeated discharges in nitrogen rich gas mixture Ⅲ

著者名: 石渡 泰隆(東京都市大学),長島 功(東京都市大学),岩尾 徹(東京都市大学),湯本 雅恵(東京都市大学)

著者名(英語): Yasutaka Ishiwata(Tokyo City University),Isao Nagashima(Tokyo City University),Toru Iwao(Tokyo City University),Motoshige Yumoto(Tokyo City University)

キーワード: SF6|NO|CF3I|絶縁ガス

要約(日本語): N2混合ガスは絶縁ガスとして利用されている。しかし,低気圧中でN2は放電で生じた高い内部エネルギーを持つ活性種により放電発生がしやすくなる事が知られている。また,高気圧中においても繰り返し放電をすると,後続の放電の絶縁破壊確率が上昇することを示してきた。そこで,N2にNOなど活性種の内部エネルギーを解放する作用を期待できる分子やSF6など電子付着性の強い分子を混合することで,電子供給が抑制される事を確認している。今回,N2にNO,SF6とSF6代替ガスの一つであるCF3Iを微量混合した時の供給電子数を測定し,供給電子数の減少速度を比較した。また,混合ガスの粒子数密度と供給電子数の減少速度についても報告する予定である。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 297 Kバイト

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