電流遮断回数が真空バルブのV-t特性に及ぼす影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-082

グループ名: 【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集

発行日: 2013/03/05

タイトル(英語): Influence of the Number of Current Interruptions on V-t Characteristics of a Vacuum Interrupter

著者名: 古川 貴皓(東京大学),松岡 成居(東京大学),熊田 亜紀子(東京大学),池田 久利(東京大学),日髙 邦彦(東京大学),塩入 哲(東芝),池田 順一(東芝)

著者名(英語): Takaaki Furukawa(The University of Tokyo),Sigeyasu Matsuoka(The University of Tokyo),Akiko Kumada(The University of Tokyo),Hisatoshi Ikeda(The University of Tokyo),Kunihiko Hidaka(The University of Tokyo),Shioiri Tetsu(Toshiba Corporation),Ikeda Junichi(Toshiba Corporation)

キーワード: 真空バルブ|絶縁破壊|電流遮断|高耐圧化|真空

要約(日本語): これまで、銅クロム接点真空バルブについて、電流遮断試験前後のV-t特性を測定してきた。その結果、電流遮断回数が3回の場合には、遮断後の方が絶縁破壊電圧が向上する傾向が見られた。その原因として、電流遮断による電極表面の凸凹の改善や、電極表面に銅とクロムの微細層が形成されることが考えられる。本報告では、電流遮断回数を更に増やした場合に、絶縁破壊電圧の向上が見られるのかを調査するために、電流遮断回数を10回、30回とした場合のV-t特性を測定した。その結果、絶縁破壊電圧の向上は確認されなかったが、絶縁破壊までの遅れ時間に大きな遅れが現れた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 372 Kバイト