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赤外線二次元ロックインアンプを用いた建造物の非破壊検査

赤外線二次元ロックインアンプを用いた建造物の非破壊検査

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-104

グループ名: 【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集

発行日: 2013/03/05

タイトル(英語): Non-destructive Testing for Delamination of Coating Using Infrared 2-D Lock in Amplifier

著者名: 新海 直人(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学),安井 元昭(情報通信研究機構),前野 恭(情報通信研究機構)

著者名(英語): Naoto Shinkai(Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City University),Motoaki Yasui(National Institute of Information and Communications Technology),Takashi Maeno(National Institute of Information and Communications Technology)

キーワード: ロックインアンプ処理|非破壊検査|赤外線カメラ

要約(日本語): 東日本大震災の発生により、東北地方を中心とした地域の建造物は、全壊・半壊となった22万5千戸に加え、外見からは認知できないダメージを受けたものが多数存在すると指摘されており、それら被災建造物の隠れた劣化状態を容易に把握できる非破壊検査技術が注目されている。そこで我々は、赤外線映像装置を用いた温度分布計測に基づく非破壊検査システムを開発した。本装置は、二次元ロックインアンプ処理を行うことにより壁面の100 mK程度の微小温度変化も観測することができ、広範囲にわたる壁面表層の欠陥が、短時間かつ詳細に検出可能となる。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 374 Kバイト

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