水素プラズマ処理時のガス流量比、マイクロ波入力電力の酸素欠損型TiO2劣化への影響
水素プラズマ処理時のガス流量比、マイクロ波入力電力の酸素欠損型TiO2劣化への影響
カテゴリ: 全国大会
論文No: 1-126
グループ名: 【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集
発行日: 2013/03/05
タイトル(英語): The effect of gas mixture ratio and microwave input power in plasma treatment on the degradation of a slightly reduced TiO2 performance.
著者名: 青木 一晃(東京理科大学),荒木 翔太(東京理科大学),片山 昇(東京理科大学),小越 澄雄(東京理科大学)
著者名(英語): Kazuaki Aoki(Tokyo University of Science),Shota Araki(Tokyo University of Science),Noboru Katayama(Tokyo University of Science),Sumio Kogoshi(Tokyo University of Science)
キーワード: 可視光応答型光触媒|酸素欠損
要約(日本語): TiO2光触媒は環境を改善する素材として期待されている。TiO2光触媒は紫外光下でのみ効果を発揮するが、プラズマを用いてTiO2の中の酸素を一部引き抜くことで伝導帯直下に新たな準位が形成されると考えられている。これによって、バンドギャップが小さくなり紫外光よりも低エネルギーである可視光でも光活性を実現することができる。しかし、この方法では経日による性能劣化が懸念されている。本研究はプラズマ処理のパラメータであるガス流量比とマイクロ波入力電力を変化させることにより、酸素欠損量を変化させた。そして、性能劣化を抑える1つの目安としてTiO2の黄色化を抑えることが示唆された。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 246 Kバイト
受取状況を読み込めませんでした
