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各種高分子における電子線照射後の空間電荷の減衰速度と導電率の関係

各種高分子における電子線照射後の空間電荷の減衰速度と導電率の関係

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-020

グループ名: 【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集

発行日: 2013/03/05

タイトル(英語): Relation between Decay Speed of Space Charge Induced by Electron Beam Irradiation and Conductivity of Polymers

著者名: 冨手 直人(早稲田大学),新井 之貴(早稲田大学),中村 紘貴(早稲田大学),日名田 暢(早稲田大学),鷲尾 方一(早稲田大学),大木義路 (早稲田大学)

著者名(英語): Naoto Tomite(Department of Electrical Engineering and Bioscience,Waseda University),Arai Yukitaka(Department of Electrical Engineering and Bioscience,Waseda University),Hirotaka Nakamura(Department of Electrical Engineering and Bioscience,Waseda University),Hinata Toru(Department of Electrical Engineering and Bioscience,Waseda University),Washio Masakazu(Department of Electrical Engineering and Bioscience,Waseda University),Yoshimichi Ohki(Department of Electrical Engineering and Bioscience,Waseda University)

キーワード: 電子線照射|空間電荷|伝導電流測定|導電率|パルス静電応力法

要約(日本語): 電子線やγ線等が照射された高分子材料の絶縁特性は,放射線誘起伝導電流,熱刺激電流等により論じられてきたが,誘起された電荷の挙動などに不明な点も残されている。本稿では,電子線照射後のPI,LDPE,PET,PEN,SPSにおいて空間電荷分布を測定することで,高分子に注入された電子の挙動を調査し,また電子線未照射のそれら試料において,伝導電流測定を行った。空間電荷分布の負電荷の減衰における第一成分の時定数より求めた導電率は,伝導電流測定より求めた導電率と良く一致した。このことから,後方散乱により試料中に残された電子が試料の導電率に律速される形で電極へ掃引されていることが示唆された。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 842 Kバイト

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