ポリイミドフィルムのプロトン照射による絶縁劣化特性の研究

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-021

グループ名: 【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集

発行日: 2013/03/05

タイトル(英語): Study on Insulation Degration Properties by Proton Beam Irradiation of Polyimide Films

著者名: 堀口 皓平(東京都市大学),王 振(東京都市大学),内山 龍(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学)

著者名(英語): Kohei Horiguchi(Tokyo City University),Shin Ou(Tokyo City University),Ryo Uchiyama(Tokyo City University),Hiroaki Miyake(Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City University)

キーワード: ポリイミド|プロトン|パルス静電応力法|コンデンサ法

要約(日本語): 宇宙機の熱制御材(MLI)はポリイミドなどの高分子が使用されており、陽子や電子などの高エネルギー荷電粒子に直接曝されることでMLIは帯電し、放電事故を引き起こす。したがって、高エネルギー荷電粒子が照射された高分子材料の絶縁特性を評価する必要がある。そこで本研究では陽子線(プロトン)照射ポリイミドの電気絶縁特性を、導電率計測、及び内部帯電計測により評価したので以下に報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 470 Kバイト