走査型プローブ顕微鏡による熱・放射線同時劣化難燃エチレンプロピレンゴムの表面観察

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-068

グループ名: 【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集

発行日: 2013/03/05

タイトル(英語): Surface Observation of Ethylene Propylene Rubber Degraded Simultaneously by Heat and Gamma-rays with a Scanning Probe Microscope

著者名: 仁木 貴之(早稲田大学),平井 直志(早稲田大学),大木義路 (早稲田大学)

著者名(英語): Niki Takayuki(Waseda University),Hirai Naoshi(Waseda University),Ohki Yoshimichi(Waseda University)

キーワード: 絶縁材料|高分子|走査型プローブ顕微鏡|劣化診断

要約(日本語): 走査型プローブ顕微鏡(SPM)は，大気圧下において対象試料表面のミクロ観察を非破壊的に観測できる方法である。本報では，原発用ケーブルに多用される難燃エチレンプロピレンゴムに熱・放射線同時劣化を施し，表面状態をSPMにおけるタッピングモードで観測した。その結果，粗さの変化は少ないが，表面は硬化していることがわかった。さらに，FT-IR-ATR測定により，表面の硬化は多重結合の増加に起因しており，酸化はほとんど進行していないことがわかった。また，熱劣化した架橋ポリエチレンと比較することにより，両者の劣化形態の差をミクロに捉えられた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 680 Kバイト