SiナノピンセットによるDNAのX線損傷の評価

カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-106

グループ名: 【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集

発行日: 2013/03/05

タイトル(英語): Si nanotweezers for DNA damage characterization under therapeutic radiation beams

著者名: ペレグレゴア (リール大学),ラコールヌリトーマ (リール大学),ラティーゴエリック (リール大学),クレリーファブリッツィオ (リール大学),久米村 百子(東京大学),ジャラベールロラン (東京大学),藤田 博之(東京大学),コラールドミニク (東京大学)

著者名(英語): Gregoire Perret(Universite de Lille),Thomas Lacornerie(Universite de Lille),Eric Lartigau(Universite de Lille),Fabrizio Cleri(Universite de Lille),Momoko Kumemura(The University of Tokyo),Laurent Jalabert(The University of Tokyo),Hiroyuki Fujita(The University of Tokyo),Dominique Collard(The University of Tokyo)

キーワード: ナノピンセット|DNA|X線治療

要約(日本語): We report the biomechanical characterization of a λ-DNA bundle exposed to a therapeutic radiation beam by Silicon Nanotweezers. The device endures the harsh environment of radiation beams and still retains molecular-level accuracy. This result paves the way for both fundamental and clinical studies of DNA degradation mechanisms under ionizing radiation for improved tumor treatment.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 392 Kバイト