異なるクエンチ発生原因を考慮したHTSコイルのクエンチ保護に関する研究

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-156

グループ名: 【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集

発行日: 2013/03/05

タイトル(英語): A Study of Quench Protection of HTS Coil Against Different Quench Origins

著者名: 皆川 拓也(横浜国立大学),藤本 康孝(横浜国立大学),塚本 修巳(上智大学)

著者名(英語): Takuya Minagawa(Yokohama National University),Yasutaka Fujimoto(Yokohama National University),Osami Tsukamoto(Sophia University)

要約(日本語): HTSコイルにおけるクエンチ発生原因は運転中の繰り返し応力によって生じる局所的な欠陥によるものと冷却システムの不具合による広範囲にわたる温度上昇によるものに分けられる。前者に対する検討は広く行われているが、後者に対する検討は行われておらず、これを含めた保護を検討することで、必要となる安定化材を減らし、コイルの電流密度を向上させることが出来ると考えられる。そこで本稿では、数値解析を用いてそれぞれの原因によってクエンチが発生した場合の最大到達温度を求め、その保護について検討した。これより、許容出来る欠陥の長さ、温度上昇範囲に閾値が存在し、これらを考慮することで必要となる安定化材の量を減らすことが出来るという可能性を得た。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 268 Kバイト