直列および並列遮断点数を変えた時のエッチドヒューズの直流遮断試験

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-180

グループ名: 【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集

発行日: 2013/03/05

タイトル(英語): DC interception test of etched fuse having different series and parallel breaking points

著者名: 中俣 純(埼玉大学),山納 康(埼玉大学),小宮 壮太(宇都宮電機製作所)

著者名(英語): Jun Nakamata(Saitama University),Yasushi Yamano(Saitama University),Souta Komiya(Utsunomiya Electric MFG. CO. LTD)

キーワード: ヒューズ|エッチドヒューズ|直流遮断

要約(日本語): 電気自動車や太陽光電池などの直流電力機器が普及している。そのため，事故時に確実に電流を遮断し，直流系統を保護するヒューズが求められている。これまで半導体保護用としてエッチドヒューズの交流遮断試験について報告を行い，良好な結果を得ている。今回，エッチドヒューズの直流遮断の適用の基礎研究を行った。本報ではセラミック基板上に銅メッキ膜をエッチング処理して作られたヒューズエレメント使用し，直列遮断点数(S)と並列遮断点(P)が異なるエレメンパターンで直流遮断試験を行い，遮断性能の比較を行った。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 352 Kバイト