真空中の銅・クロム接点の長時間E－t特性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-211

グループ名: 【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集

発行日: 2013/03/05

タイトル(英語): Long Time E-t Characteristics for Copper-Chromium Contact in Vacuum

著者名: 塩入 哲(東芝)

著者名(英語): Tetsu Shioiri|Naoki Asari|Junichi Sato|Kosuke Sasage|Junichi Ikeda

キーワード: 真空|絶縁破壊|V－t特性

要約(日本語): 真空絶縁による接地開閉器の絶縁信頼性を検討するために、接地開閉器の接点として用いられる銅・クロム接点の長時間E－t特性を調査した。真空絶縁の垂下係数nは55と67が得られた。。真空絶縁はエポキシ樹脂と比較すると、課電劣化しにくく、SF6ガスと同程度であることが明らかになった。

原稿種別: 日本語

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