微小欠陥を含む絶縁物のV-t特性~No.1~

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-231

グループ名: 【全国大会】平成25年電気学会全国大会論文集

発行日: 2013/03/05

タイトル(英語): V-t characteristics of epoxy insulators caused by inner micro-defects

著者名: 何 志賢(三菱電機),西田 智恵子(三菱電機),亀井 光仁(三菱電機),植田 玄洋(東京電力),和田 純一(東京電力),岡部 成光(東京電力)

著者名(英語): Shiken Ka(Mitsubishi Electric Corporation),Chieko Nishida(Mitsubishi Electric Corporation),Mitsuhito Kamei(Mitsubishi Electric Corporation),Genyo Ueta(Tokyo Electric Power Company),Junichi Wada(Tokyo Electric Power Company),Shigemitsu Okabe(Tokyo Electric Power Company)

キーワード: ガス絶縁開閉装置|部分放電|絶縁物|V-t特性

要約(日本語): ガス絶縁開閉装置は密閉容器にSF6ガスを封入した高信頼度機器であり、当初想定した30年の期待寿命を超えて今後も継続使用される機器も増えている。このような高経年機器において、工場試験を通過した微小欠陥が長期のストレスで進展劣化し、部分放電が発生した場合の破壊特性については一部報告があるが、欠陥の種類や形状の影響まで十分に考察されておらず、おおまかな目安を与えるものでしかない。今回、管理された欠陥により欠陥種類別のV-t特性を取得する研究として、ボイド，剥離，クラックの代表的な3種類の絶縁物内部欠陥が1pCとなる形状を規定し、短時間破壊試験により、破壊電圧が欠陥種類に依存することを確認した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 201 Kバイト