ESD試験におけるプリント基板上パターン導体間フラッシオーバ電圧に及ぼす除電方法の影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-048

グループ名: 【全国大会】平成26年電気学会全国大会論文集

発行日: 2014/03/05

タイトル(英語): Influence of neutralization way on flashover voltage of the foil conductors on printed wiring board under the ESD test

著者名: 加茂 智士(九州工業大学),園田 将史(九州工業大学),大塚信也 (九州工業大学)

著者名(英語): Tomohito Kamo(Kyushu Institute of Technology),Masashi Sonoda(Kyushu Institute of Technology),Shinya Ohtsuka(Kyushu Institute of Technology)

キーワード: 静電気放電|プリント配線板|フラッシオーバ|除電

要約(日本語): 近年の電子機器プリント配線のファインパターン化により、雷インパルス電圧や交流、直流電圧に対するプリント配線パターン導体間のフラッシオーバ電圧(FOV)特製の検討が行われている。他方、筆者らはこれまで、電子機器プリント基板の静電気放電(ESD)耐性評価の観点から、IEC61000-4-2に示される静電気試験法によるプリント配線パターン導体間のフラッシオーバ電圧(FOV)特性を検討している。本論文では、静電気試験中の基板上帯電がFO試験における影響を調べるため、複数の試験方法を用いることで基板上の帯電状況を変化させ、試験毎のFOVを調べた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 176 Kバイト