プリント基板上パターン導体間のESD試験におけるフラッシオーバ特性の試験機依存性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-049

グループ名: 【全国大会】平成26年電気学会全国大会論文集

発行日: 2014/03/05

タイトル(英語): Influence of ESD Simulator Type on Flashover Voltage of the Foil Conductor gap on Printed wiring Board

著者名: 園田 将史(九州工業大学),岩井 将(九州工業大学),加茂 智士(九州工業大学),大塚信也 (九州工業大学)

著者名(英語): Masashi Sonoda(Kyushu Institute of Technology),Sho Iwai(Kyushu Institute of Technology),Tomohito Kamo(Kyushu Institute of Technology),Shinya Ohtsuka(Kyushu Institute of Technology)

キーワード: ESD試験器|静電気放電|フラッシオーバ電圧|プリント基板

要約(日本語): 電子機器の小型、高性能化に伴うプリント配線板の高密度化に伴い、静電気耐性の向上が重要となっている。他方、プリント配線パターン導体間の絶縁特性の検討は行われているが、ESD試験を対象とした検討はあまり行われていない。そこで、筆者らはこれまで、プリント基板上に円盤状やその先端形状を変えたパターン導体間におけるESD試験器を用いてフラッシオーバ電圧特性を検討した。本論文では3種類のESDガンを用いて、50Ω電流ターゲットに対する放電電流波形とプリント基板上パターン導体間フラッシオーバ電圧(FOV)特性の検討を行った。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 368 Kバイト