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テラヘルツ波の反射による表面粗さを有する誘電体の屈折率測定法

テラヘルツ波の反射による表面粗さを有する誘電体の屈折率測定法

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-108

グループ名: 【全国大会】平成26年電気学会全国大会論文集

発行日: 2014/03/05

タイトル(英語): Measurement of refractive index of dielectric material with rough surface by reflection of terahertz waves

著者名: 福地 哲生(電力中央研究所),布施 則一(電力中央研究所),水野 麻弥(情報通信研究機構),福永 香(情報通信研究機構)

著者名(英語): Tetsuo Fukuchi(Central Research Institute of Electric Power Industry),Norikazu Fuse(Central Research Institute of Electric Power Industry),Maya Mizuno(National Institute of Information and Communications Technology),Kaori Fukunaga(National Institute of Information and Communications Technology)

キーワード: テラヘルツ波|誘電体|屈折率|表面粗さ|反射率

要約(日本語): 誘電体の屈折率は誘電体表面の鏡面反射率から求められるが,粗い表面では同時に発生する鏡面反射と散乱反射を分離する必要がある。本研究では電磁波の送受信の視野角を変えることで鏡面反射と散乱反射の割合を変え,最小視野角へ外挿することで鏡面反射率を求め,これをもとに屈折率を求める方法を考案した。金属基板上に溶射されたセラミック製のコーティングを対象に検証実験を行い,手法の妥当性を確認した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 281 Kバイト

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