赤外線二次元ロックインアンプを用いた建造物外壁の非破壊診断

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-114

グループ名: 【全国大会】平成26年電気学会全国大会論文集

発行日: 2014/03/05

タイトル(英語): Non-Destructive Diagnosis for Degradation of Building Wall using Infrared 2-D Lock-in Amplifier

著者名: 齋藤壮志 (東京都市大学),新海 直人(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学),落合 啓(情報通信研究機構),前野 恭(情報通信研究機構)

著者名(英語): Takeshi Saitoh(Tokyo City University),Naoto Shinkai(Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City University),Satoshi Ochiai(National Institute of Information and Communications Technology),Takashi Maeno(National Institute of Information and Communications Technology)

キーワード: ロックインアンプ処理|非破壊検査|赤外線カメラ

要約(日本語): 東日本大震災により東北地方を中心とした地域が被災し、多数の建造物が全壊･半壊したことに加え、外見からは判断できない亀裂等のダメージを負った建造物が多数存在し、それらのダメージを原因とした建造物の劣化の促進や余震による建造物等の倒壊が懸念されている。そこで、劣化状態を未然に発見することができる劣化診断技術が求められている。我々は、赤外線カメラを用いた温度分布計測に基づく劣化診断法に二次元ロックインアンプ処理を適用することで、新たな非破壊検査システムを開発した。本システムの効果を実証するために実際の建造物の外壁を測定する実証試験を行なった結果、建造物内部の状態を把握できることがわかった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 309 Kバイト