ノズル内SF6ガス吹付けアーク減衰過程のトムソン散乱計測
ノズル内SF6ガス吹付けアーク減衰過程のトムソン散乱計測
カテゴリ: 全国大会
論文No: 1-127
グループ名: 【全国大会】平成26年電気学会全国大会論文集
発行日: 2014/03/05
タイトル(英語): Thomson Scattering Measurements of Decaying SF6 Gas-Blast Arcs in a Nozzle
著者名: 富田 健太郎(九州大学),清水 陽大(九州大学),合嶋 大輔(九州大学),内野 喜一郎(九州大学),田中 康規(金沢大学),中野 智之(金沢大学),鈴木 克巳(東京電機大学),飯島 崇文(東芝),内井 敏之(東芝),新海 健(東芝)
著者名(英語): Kentaro Tomita(Kyushu University),Takahiro Shimizu(Kyushu University),Daisuke Gojima(Kyushu University),Kiichiro Uchino(Kyushu University),Yasunori Tanaka(Kanazawa University),Tomoyuki Nakano(Kanazawa University),Katsumi Suzuki(Tokyo Denki University),Takanori Iijima(Thoshiba Coporation),Toshiyuki Uchii(Thoshiba Coporation),Takeshi Shinkai(Thoshiba Coporation)
キーワード: レーザトムソン散乱|SF6ガス吹付けアーク|ガス遮断器|アーク減衰過程|電子密度|電子温度
要約(日本語): ノズル内ガス吹付けアーク減衰過程の理解は,ガス遮断器の高性能化に向けて重要である.特に,現在消弧ガスとして広く使用されているSF6ガスの電流遮断後の電子密度は,遮断性能に本質的に関わるため,重要なパラメータである.我々のグループではノズル内ガス吹付けアーク減衰過程の電子密度および電子温度の時間発展計測を,レーザトムソン散乱法を用いて行っている.これまでの研究で既に,Ar/SF6混合ガスアーク(SF6ガス混入割合は20%以下)の電子密度計測結果を報告している.しかし,SF6ガス割合が増すと,アーク形状が不安定となり,計測が困難となることがわかった.この問題には,トムソン散乱計測用レーザの形状を工夫することで対処した.
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 279 Kバイト
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