モールド絶縁の寿命に対する部分放電の影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-061

グループ名: 【全国大会】平成26年電気学会全国大会論文集

発行日: 2014/03/05

タイトル(英語): Influence of Partial Discharge on Lifetime of Mold Insulator.

著者名: 上羽正尭 (三重大学),飯田 和生(三重大学),梅村 時博(三重大学),匹田 政幸(九州工業大学),小迫 雅裕(九州工業大学),中村勇介 (東芝),広瀬 達也(東芝),東山 雅一(東芝産業機器システム),前田 照彦産業機器システム(東芝産業機器システム)

著者名(英語): Masataka Ueba(Mie University),Kazuo Iida(Mie University),Tokihiro Umemura(Mie University),masayuki Hikita(Kyushu Institute of Technology),Masahiro Kozako(Kyushu Institute of Technology),Yusuke Makamura(TOSHIBA Corporation),Tatsuya Hirose(TOSHIBA Corporation),Masakazu Higashiyama(TOSHIBA INDUSTRIAL PRODUCTS AND SYSTEMS CORPORATION),Teruhiko Maeda(TOSHIBA INDUSTRIAL PRODUCTS AND SYSTEMS CORPORATION)

キーワード: 部分放電|V-t試験|モールド絶縁|エポキシ

要約(日本語): 固体絶縁機器の絶縁体内部におけるボイドや剥離等の欠陥内部で生じる部分放電が機器の劣化を早めることが報告されており、機器寿命と部分放電の関係を調査、検討し課電寿命評価の基礎とすることを目的としている。本研究ではエポキシ樹脂で平行平板に配置した電極をモールドした試料を用いて、交流電圧17.5kVで部分放電電荷量を測定しながらV-t試験を行った。その結果、放電電荷量が小さい試料ほど寿命が長くなる傾向を示し。また、その中でも大きい放電は寿命に大きな影響を及ぼすことが認められた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 235 Kバイト