難燃EPDMの劣化評価における走査型プローブ顕微鏡とインデンターの比較

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-075

グループ名: 【全国大会】平成26年電気学会全国大会論文集

発行日: 2014/03/05

タイトル(英語): Comparison of a Scanning Probe Microscope and an Indenter for the Aging Evaluation of Ethylene Propylene Diene Copolymer

著者名: 仁木 貴之(早稲田大学),平井 直志(早稲田大学),大木義路 (早稲田大学)

著者名(英語): Takayuki Niki(Waseda University),Naoshi Hirai(Waseda University),Yoshimichi Ohki(Waseda University)

キーワード: 高分子絶縁材料|放射線劣化|熱劣化|走査型プローブ顕微鏡|原子間力顕微鏡|エチレンプロピレン共重合体

要約(日本語): 本報では，走査型プローブ顕微鏡(SPM)により，ケーブルの絶縁に用いられている高分子試料の表面をミクロ的に観察し，結果を実ケーブルにおいて劣化監視に用いられているインデンターモジュラスというマクロ的な評価と比較する。試料として，難燃エチレンプロピレンゴム(FR-EPDM)を使用し，熱処理，放射線照射，熱処理と放射線の同時照射という種の劣化を施した。劣化したFR-EPDMでは，SPMによるフォースカーブの微係数による表面物性評価によって，表面が硬くなっていることが分かった。また，インデンターモジュラスと比較し，SPMがFR-EPDMの顕微観察が可能で優れていることが分かった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 325 Kバイト