直線マイクロストリッププローブによる薄膜透磁率計測

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-129

グループ名: 【全国大会】平成26年電気学会全国大会論文集

発行日: 2014/03/05

タイトル(英語): Permeability measurement of magnetic thin film by microstrip conductor line

著者名: 木村 卓文(東北学院大学),薮上 信(東北学院大学),小澤 哲也(東北学院大学),宮澤 安範(東栄科学産業),島田 寛(東北大学)

著者名(英語): Takafumi Kimura(Tohoku Gakuin University),Shin Yabukami(Tohoku Gakuin University),Tetsuya Ozawa(Tohoku Gakuin University),Yasunori Miyazawa(Toei Scientific Industrial co.,ltd),Yutaka Shimada(Tohoku University)

キーワード: 磁性薄膜|透磁率

要約(日本語): 従来の磁性薄膜の透磁率測定法では評価試料を数mm角程度に切り出す必要があることから材料開発において非効率であった。また、特定の形状に切り出すことにより本来の磁気特性が変化してしまう可能性もある。本報告では、インピーダンス整合を考慮した直線マイクロストリップ型プローブを磁性薄膜に近接させることで非破壊に透磁率を計測した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 356 Kバイト