No-Insulation(NI) REBCO パンケーキコイルの層間接触抵抗評価実験
No-Insulation(NI) REBCO パンケーキコイルの層間接触抵抗評価実験
カテゴリ: 全国大会
論文No: 5-163
グループ名: 【全国大会】平成26年電気学会全国大会論文集
発行日: 2014/03/05
タイトル(英語): Experiments on Turn-to-Turn Contact Characteristics of No-Insulation REBCO Pancake Coil
著者名: 大木 隆広(早稲田大学),池田 愛花(早稲田大学),荒川 一誠(早稲田大学),南 克彦(早稲田大学),中田 恵理香(早稲田大学),王 旭東(早稲田大学),石山 敦士(早稲田大学),野口 聡(北海道大学),Seungyong Hahn(マサチューセッツ工科大学),岩佐 幸和(マサチューセッツ工科大学)
著者名(英語): Takahiro Oki(Waseda University),Aika Ikeda(Waseda University),Issei Arakawa(Waseda University),Katsuhiko Minami(Waseda University),Erika Nakada(Waseda University),Xudong Wang(Waseda University),Atsushi Ishiyama(Waseda University),So Noguchi(Hokkaido University),Seungyong Hahn(Massachusetts Institute of Technology),Yukikazu Iwasa(Massachusetts Institute of Technology)
キーワード: NIコイル|REBCOパンケーキコイル|高電流密度化|表面接触抵抗率|層間接触抵抗
要約(日本語): No-Insulation(NI)コイルは高電流密度化が可能であり,クエンチによるコイル焼損のリスクの低下がメリットとして挙げられる。また,高い熱的安定性により能動的な保護が不要になる可能性が示唆されている。今回はNIコイルの層間接触抵抗を評価した。実験は60ターンのコイルから20ターンずつ取り除いた3種類のコイルについて行った。NIコイルを励磁した後,電源を遮断し,コイル両端を開放状態に?するとコイル内の電流は線間(層間)を介して短絡される。その時に発生する抵抗はほぼ層間接触抵抗が支配的であると仮定できる。電流遮断後の中心磁場の減衰を測定し,各コイルの時定数を算出した。時定数よりコイルの層間接触抵抗及び表面接触抵抗率を求めた。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 286 Kバイト
受取状況を読み込めませんでした
