粒子法・有限要素法の連成による静電霧化現象の導体近似解析
粒子法・有限要素法の連成による静電霧化現象の導体近似解析
カテゴリ: 全国大会
論文No: 5-191
グループ名: 【全国大会】平成26年電気学会全国大会論文集
発行日: 2014/03/05
タイトル(英語): Approximate Analysis of Conductor of Electrostatic Atomization Employing MPS Method and FEM
著者名: 小川 伸之助(大阪大学),平田 勝弘(大阪大学),宮坂 史和(大阪大学),吉川 岳(大阪大学),松澤 周平(大阪大学)
著者名(英語): Shinnosuke Ogawa(Osaka University),Katuhiro Hirata(Osaka University),Fumikazu Miyasaka(Osaka University),Gaku Yoshikawa(Osaka University),Shuhei Matsuzawa(Osaka University)
キーワード: 静電霧化|粒子法|有限要素法|連成解析|電磁流体|導体近似
要約(日本語): 静電霧化現象は様々な機器に応用されている.しかし,微小領域で流体と電界が相互に作用する複雑な現象であるため物理量の測定や予測が難しく,解析による現象の解明が急務である.これまでの研究では粒子法と有限要素法の連成解析を提案し,静電霧化現象において実現象と定性的に一致することを確認したが,定量的には解析誤差が未解決となっている.そこで本稿ではこれまで誘電体として扱っていた液滴を導体近似することで解析精度の向上を図った.その結果,まだ解析誤差は見られるが,水滴に働く静電力の増加により水滴挙動は実験結果に近づくことを確認した.
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 619 Kバイト
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