微小欠陥を含む絶縁物のV-t特性?No.5 加速試験?

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-255

グループ名: 【全国大会】平成26年電気学会全国大会論文集

発行日: 2014/03/05

タイトル(英語): V-t Characteristics of Micro-defects in Inner Epoxy Insulators - No.5 Acceleration Test

著者名: 植田 玄洋(東京電力),和田 純一(東京電力),岡部 成光(東京電力),宮下 信(三菱電機),西田 智恵子(三菱電機),何 志賢(三菱電機),亀井 光仁(三菱電機)

著者名(英語): Genyo Ueta(Tokyo Electric Power Company),Junichi Wada(Tokyo Electric Power Company),Shigemitsu Okabe(Tokyo Electric Power Company),Makoto Miyashita(Mitsubishi Electric Corporation),Chieko Nishida(Mitsubishi Electric Corporation),Shiken Ka(Mitsubishi Electric Corporation),Mitsuhito Kamei(Mitsubishi Electric Corporation)

キーワード: ガス絶縁開閉装置|絶縁スペーサ|微小欠陥|クラック|部分放電|周波数加速

要約(日本語): ガス絶縁開閉装置（GIS）は，その高い信頼性や安全性，コンパクト性などから，主要変電設備として広く導入が進んできた。現在，フィールドではこれらのGISの高経年化が進みつつあり，その健全性の見極めが重要となってきている。このような高経年GISの，絶縁面での寿命を決める支配的な要因の一つとして，絶縁スペーサの劣化が考えられる。GISを長期に信頼性を保ちつつ使用するには，経年による絶縁物の劣化特性を把握する必要がある。本課題に対して，筆者らはこれまで，エポキシ絶縁物中に極微小な欠陥が存在した場合の劣化特性（V-t特性）を電界加速により取得してきた。本報告では，更なる長時間領域でのV-t特性を取得する方法として，周波数加速による加速劣化の等価性について検討を行う。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 253 Kバイト