ダイオードバイパス回路による故障した熱電発電モジュールの出力補償特性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-043

グループ名: 【全国大会】平成26年電気学会全国大会論文集

発行日: 2014/03/05

タイトル(英語): About improved characteristic of output of damaged TEG by diode bypath circuit.

著者名: 奥 将俊(宮崎大学),山口 昂平(宮崎大学),田島 大輔(宮崎大学),林 則行(宮崎大学)

著者名(英語): Masatoshi Oku(University of Miyazaki),Kohei Yamaguchi(University of Miyazaki),Daisuke Tashima(University of Miyazaki),Noriyuki Hayashi(University of Miyazaki)

キーワード: ダイオードバイパス回路|モジュール保護|熱電発電|断線故障|出力低下|特性

要約(日本語): 熱電発電モジュールは未利用エネルギーを有効利用する手段として活用されている。この熱電発電モジュールは小さな熱電対を直列に接続して出力電圧が大きくなるように工夫されている。しかし、接続されている熱電対のうち1か所が切断したり出力低下したりすると、出力電力が低下したり停電したりしてしまうことがある。そのため、本研究では太陽電池で使われているダイオードバイパス回路を熱電発電モジュールへ応用して接続し、どのような出力特性となるか調査した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 308 Kバイト