円筒空洞共振器による反りを有する厚膜材料の複素比誘電率測定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-025

グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集

発行日: 2015/03/05

タイトル(英語): Measurements of Complex Permittivity of Thick Film Warping Material using a Cylindrical Cavity Resonator

著者名: 市原 元気(木更津工業高等専門学校),富塚 祐介(木更津工業高等専門学校),大野 貴信(木更津工業高等専門学校),谷井 宏成(木更津工業高等専門学校)

著者名(英語): GENKI ICHIHARA(Kisarazu National College of Technology),YUSUKE TOMIZUKA(Kisarazu National College of Technology),TAKANOBU OHNO(Kisarazu National College of Technology),KOSEI TANII(Kisarazu National College of Technology)

キーワード: 空洞共振器法|複素比誘電率|円筒空洞共振器|ポリイミド|フレキシブル基板

要約(日本語): 近年，電子機器の小型化・薄型化に伴い，ポリイミド厚膜などを材料とするフレキシブルプリント基板が用いられている．基板材料の複素比誘電率は，回路の特性に影響を及ぼすため正確な測定が重要である．我々はこれまでに，厚膜材料における試料の反りと複素比誘電率の測定精度の関係性について検討を行ってきた．その結果，試料の反りの大きさに伴って，複素比誘電率の実部の測定精度が悪化する傾向が確認されている．そこで本研究では，試料の反りを低減するためのホルダを作成し，そのホルダを用いて複素比誘電率の測定を行い，測定精度について検討を行う．

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 889 Kバイト