赤外線二次元ロックインアンプによる伝送線路近傍の偏波測定法の開発
赤外線二次元ロックインアンプによる伝送線路近傍の偏波測定法の開発
カテゴリ: 全国大会
論文No: 1-032
グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集
発行日: 2015/03/05
タイトル(英語): Development of Polarimetry near Transmission Line using Infrared 2-D Lock-in-Amplifier
著者名: 本宮 大士(東京都市大学),許斐 真広(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学),前野 恭(情報通信研究機構)
著者名(英語): Taishi Honmiya(Tokyo City Univercity),Masahiro Konomi(Tokyo City Univercity),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City Univercity),Takashi Maeno(National Institute of Information and Communications Technology)
キーワード: EMI問題|赤外線二次元ロックインアンプ|マイクロストリップライン|偏波測定|電磁波吸収シート|電界強度分布
要約(日本語): 近年、電磁波技術の進歩にともない、電子機器等が不要電磁ノイズを送受信し誤作動・故障を誘発するEMI問題は増加傾向にある。この問題を解決するため、様々な環境下での電磁波の挙動を観測する必要がある。これまで本研究グループでは、電磁波吸収シートを、電磁界強度を観測したい位置に設置し、シートの発熱を赤外線カメラで撮像することにより、電磁界分布を温度変化分布として観測する手法を開発した。本報告では、電磁界分布の特性を理解するために重要である偏波測定を試みるために、切り込み加工を加えたシートをセンサとして用いた結果を示す。測定対象は伝送線路のマイクロストリップラインであり、HFSSを使った数値計算による解析結果と比較したところ、電界分布の傾向が一致していた。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 442 Kバイト
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