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イオン衝撃二次電子銃による芽胞形成菌の不活性化実験

イオン衝撃二次電子銃による芽胞形成菌の不活性化実験

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-102

グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集

発行日: 2015/03/05

タイトル(英語): Inactivation of Spore-forming Bacteria by Secondary Electron Emission Gun

著者名: 村越 貴成(東京工業大学),佐藤 駿(東京工業大学),渡邊 正人(東京工業大学),堀田 栄喜(東京工業大学)

著者名(英語): Takanari Murakoshi(Tokyo Institute of Technology),Shun Sato(Tokyo Institute of Technology),Masato Watanabe(Tokyo Institute of Technology),Eiki Hotta(Tokyo Institute of Technology)

キーワード: 電子ビーム|イオン源|イオンビーム|パルス放電|不活性化|芽胞形成菌

要約(日本語): 電子ビームは物質に対する透過性および反応性をもつことから,幅広い分野に応用されている。二次電子銃は広範囲の電子ビーム照射が可能であること,現在実用化されている電子加速器と比べて大幅に小型であること,パルス動作による繰り返し照射が可能であることなどのメリットがある。本研究では,二次電子銃の滅菌性能を評価するために放射線に対して耐性を持つ芽胞形成菌(Bacillus pumilus)を用いて不活性化実験を行った。 本研究では,B.pumilusを寒天培地上に塗布し,繰り返しパルス周波数2Hz一定で電子ビームを照射した。電子ビームを2000 shot照射後,2日間培養したときの様子から,電子ビームを照射された範囲において菌が不活性化していることが分かった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 395 Kバイト

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