耐サージエナメル巻線の課電寿命試験における部分放電劣化進行過程の分光電界強度測定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-136

グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集

発行日: 2015/03/05

タイトル(英語): Spectroscopic electric field strength measurement of partial discharge deterioration process in the electrical life test of anti-surge enamel winding wires.

著者名: 安本 雄祐(兵庫県立大学),永田 正義(兵庫県立大学),菊池 祐介(兵庫県立大学)

著者名(英語): Yusuke Yasumoto(University of Hyogo),Masayoshi Nagata(University of Hyogo),Yusuke Kikuchi(University of Hyogo)

キーワード: ツイストペア|課電寿命試験|部分放電|分光|ナノコンポジット

要約(日本語): 近年，省エネ効果の高いインバータ駆動モータの適用が拡大している。一方，モータ巻線はインバータサージと称される繰返し高電圧パルスに曝され，モータ巻線間にて部分放電（PD）が発生し、モータ巻線の絶縁被膜が浸食され最終的には絶縁破壊に至る危険性がある。我々の研究グループでは、これまでモータ巻線を模擬した2本のナノコンポジットエナメル線をより合せたツイストペアを用いてV-t課電寿命試験を行っており、その結果、汎用線に比べて長寿命であることを明らかにした。今回、ナノコンポジット線の優れた耐サージ特性の要因を明らかにするために、課電劣化過程における部分放電開始電圧（PDIV）と分光法によるPD発生空間の電界強度の変化を調べ、ナノ粒子析出との関係について調べた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 309 Kバイト