ポリプロピレンフィルムの表面構造が密閉ボイドの部分放電劣化に与える影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-140

グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集

発行日: 2015/03/05

タイトル(英語): Influence of Film-surface Structure to Partial Discharge Deterioration of a Closed Void

著者名: 淺井 孝憲(名古屋大学),栗本 宗明(名古屋大学),古森 郁尊(鳥羽商船高等専門学校),加藤 丈佳(名古屋大学),舟橋 俊久(名古屋大学),鈴置 保雄(名古屋大学),笹谷 幸生(日新電機),西出 秀樹(日新電機),小倉 慎太郎(日新電機),佐野 侑也(日新電機)

著者名(英語): Takanori Asai(Nagoya University),Muneaki Kurimoto(Nagoya University),Fumitaka Komori(National Institute of Technology,Toba College),Takeyoshi Kato(Nagoya University),Toshihisa Funabashi(Nagoya University),Yasuo Suzuoki(Nagoya University),Yukio Sasatani(NISSIN ELECTRIC Co.,Ltd),Hideki Nishide(NISSIN ELECTRIC Co.,Ltd),Shintarou Ogura(NISSIN ELECTRIC Co.,Ltd),Yuuya Sano(NISSIN ELECTRIC Co.,Ltd)

キーワード: ポリプロピレンフィルム|密閉ボイド|部分放電劣化

要約(日本語): 電力用フィルムコンデンサの高電圧化，高信頼度化のためには，コンデンサ内におけるポリプロピレン(PP)フィルムの部分放電劣化メカニズムを明らかにする必要がある。本論文では基礎的な検討として，PPフィルムの粗面化処理の有無が密閉ボイドの部分放電劣化に与える影響を調査した。その結果，粗面化処理によって部分放電パターンの経時変化に顕著な違いは見られないものの，部分放電劣化による貫通孔面積は粗面化処理によって大きくなる傾向が得られた。粗面化処理によるフィルム表面構造の違いが部分放電劣化に影響を及ぼすことが示唆された。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 450 Kバイト