走査型プローブ顕微鏡による熱劣化と熱・放射線同時劣化シリコーンゴムの表面観察

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-055

グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集

発行日: 2015/03/05

タイトル(英語): Surface Observation of Silicone Rubber Aged by Heat and Simultaneously-Given Heat and Radiation with Scanning Probe Microscopy

著者名: 花田 脩伍(早稲田大学),仁木 貴之(早稲田大学),平井 直志(早稲田大学),大木 義路(早稲田大学)

著者名(英語): Shugo Hanada(Waseda University),Takayuki Niki(Waseda University),Naoshi Hirai(Waseda University),Yoshimichi Ohki(Waseda University)

キーワード: 走査型プローブ顕微鏡|シリコーンゴム|熱劣化|放射線|高分子絶縁体|原子間力顕微鏡

要約(日本語): 大気中で100，175，205oCで熱劣化，および100oCで1kGy/hのガンマ線照射による熱・放射線同時劣化を，それぞれ200時間または400時間行ったシリコーンゴムについて，走査型プローブ顕微鏡(SPM)による表面観察とフーリエ変換赤外分光(FT-IR)の全反射測定を行った。先行研究では，FT-IRにおいて有意な変化はなく，引張試験では劣化条件が厳しくなるほど硬化するとされている。今回の結果では，FT-IRでは同様に有意な変化がなく，SPMにより，試料の硬化は劣化条件が厳しくなるにつれて進行することが確認された。これは，先行研究の引張試験の結果と符合している。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 715 Kバイト