電子線輸送コードを用いたエポキシ樹脂内における数MeV入射電子の挙動解析

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-057

グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集

発行日: 2015/03/05

タイトル(英語): Computer analysis on the behavior of electrons with MeV older energy into epoxy resin

著者名: 清水 健吾(首都大学東京),西條 暁仁(首都大学東京),鈴木 敬久(首都大学東京),渡邉 力夫(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学)

著者名(英語): Kengo Shimizu(Tokyo Metropolitan University),Akihito Saijo(Tokyo Metropolitan University),Yukihisa Suzuki(Tokyo Metropolitan University),Rikio Watanabe(Tokyo City University),Hiroaki Miyake(Tokyo City University)

キーワード: 電子線照射|モンテカルロシミュレーション|空間電荷蓄積

要約(日本語): 過去に数MeVの電子線を誘電材料であるエポキシ樹脂に照射し、材料内部の電荷分布と温度分布を測定する実験が試みられた。この実験結果においては、温度分布と電荷蓄積のピーク位置に違いが現れるメカニズムが明らかになっていない。その違いに関係するメカニズムを明らかにするために、入射電子と校正材料との相互作用を考慮したコンピュータシミュレーションを実行し、材料内部での入射電子の挙動解析を行った。シミュレーションの結果、入射電子の蓄積分布と、電子が媒質を構成する粒子と非弾性散乱を行うことで生成される二次電子の蓄積分布を取得することができた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 364 Kバイト