Dekkerの二次電子放出物理モデルに基づいた二次電子放出係数半経験的モデルの考案

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-058

グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集

発行日: 2015/03/05

タイトル(英語): Devised the semi-empirical model of the secondary electron emission yield based on the Dekker's physical model

著者名: 谷口 大明(東京都市大学),長門 拡(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学),大平 正道(宇宙航空研究開発機構),奥村 哲平(宇宙航空研究開発機構),川北 史朗(宇宙航空研究開発機構),高橋 真人(宇宙航空研究開発機構)

著者名(英語): Hiroaki Taniguchi(Tokyo City University),Hiromu Nagato(Tokyo City University),Hiroaki Miyake(Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City University),Masamichi Ohira(JAXA),Teppei Okumura(JAXA),Shiro Kawakita(JAXA),Masato Takahashi(JAXA)

キーワード: 二次電子放出|電子線|宇宙機帯電

要約(日本語): 本研究では二次電子放出係数の測定を行っており、これまでにDekkerのモデルを用いて測定結果に対する回帰計算を行ってきた。我々の測定には“真の”二次電子の他に反射電子が含まれているにも関わらず、Dekkerのモデルは“真の”二次電子のみしか考慮していないため、本研究の測定結果に対して適用できないと考えられる。そこで、Casinoモンテカルロシ法ミュレーションソフトを用いて反射電子放出係数を計算し、Dekkerのモデルに導入した。また、これまで回帰係数としていた二次電子の表面脱出確率や平均脱出深さを実験的に求め、半経験的モデルを考案したので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 376 Kバイト