Investigation about the sensitivity correction for SQUID testing system
Investigation about the sensitivity correction for SQUID testing system
カテゴリ: 全国大会
論文No: 2-125
グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集
発行日: 2015/03/05
タイトル(英語): Investigation about the sensitivity correction for SQUID testing system
著者名: 八木 俊文(滋賀県立大学),福岡 克弘(滋賀県立大学),作田 健(滋賀県立大学)
著者名(英語): Toshifumi Yagi(University of Shiga Prefecture),Katsuhiro Fukuoka(University of Shiga Prefecture),Ken Sakuta(University of Shiga Prefecture)
キーワード: SQUID|FLL|金属異物検出|検査システム|感度補正
要約(日本語): 高感度磁気センサSQUIDを用いて微小な欠陥や金属異物を検出する各種検査システムが開発されている。SQUIDは周期的なV-Φ特性を持つため、通常はFLL法で線形化して用いられるが、極小さな欠陥や異物による信号は線形領域より小さいため、SQUID出力を直接読み取るsmall-signal modeを導入できる。small-signal modeを導入することで帯域の制限がなくなり励磁周波数を高くできる。本研究では金属異物を対象とした交流励磁法による金属検出を例として、small-signal modeの導入について検討した。検査システムではSQUIDを長時間稼働させることになるが、SQUIDのV-Φ特性は温度等で変化することがあるため、出力電圧を正しく磁束密度に換算できない。よってリアルタイムで変換係数を算出し、出力電圧を補正する方法について検討を行った。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 663 Kバイト
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