単板磁気特性試験器における磁界分布の均一度向上を目的とした励磁巻線の形状最適化

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-130

グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集

発行日: 2015/03/05

タイトル(英語): Shape Optimization of Exciting Coil in Single Sheet Tester for Improving Uniformity of Magnetic Field Distribution

著者名: 野田 和秀(同志社大学),髙橋 康人(同志社大学),藤原 耕二(同志社大学)

著者名(英語): Kazuhide Noda(Doshisha University),Yasuhito Takahashi(Doshisha University),Koji Fujiwara(Doshisha University)

キーワード: 形状最適化|遺伝的アルゴリズム|単板磁気特性試験器

要約(日本語): 単板磁気特性試験器（SST）による高精度な磁気特性の測定を行うためには，測定範囲付近における磁界分布の均一度が重要である．そこで本稿では，代表的な最適化手法である遺伝的アルゴリズム（GA）を用いて，測定範囲における磁界の均一度向上を目的とした SSTの励磁巻線の形状最適化を行った．しかし，SSTの補償巻線では設計の自由度が大きいため，設計変数が膨大になることに起因して，計算コストの増加が問題となる．そこで，適切な巻線形状を実用的な計算コストで導出できるように，最適化計算を多段階的に使用し，設計変数の削減および収束特性の向上を試みた．

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 406 Kバイト