Fe基アモルファス薄帯の標準磁気特性試験法に関する検討-回送試験の中間報告-

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-138

グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集

発行日: 2015/03/05

タイトル(英語): Fundamental Investigation Standard Measurement Method for Magnetic Property of Fe-based Amorphous Strip -Intermediate Report of Round Robin Test-

著者名: 田中 雅也(同志社大学),渡壁 竜(同志社大学),藤原 耕二(同志社大学),高橋 康人(同志社大学),石原 好之(同志社大学),東 大地(日立金属)

著者名(英語): Masaya Tanaka(Doshisha University),Ryu Watakabe(Doshisha University),Kouji Fuzjiwara(Doshisha University),Yasuhito Takahashi(Doshisha University),Yoshiyuki Ishihara(Doshisha University),Daichi Azuma(Hitachi Metals)

キーワード: Fe基アモルファス薄帯|IEC規格化|単板磁気特性試験器（SST)|Hコイル法|励磁電流法|回送試験（RRT）

要約(日本語): Fe基アモルファス薄帯（以下，アモルファス）は，変圧器の無負荷損の低減に有効である．省エネルギー問題の解決に向けた変圧器の低損失化の要求に伴い，近年アモルファスの使用量は増加している．現在，アモルファスの規格化がIEC/TC68において検討されている．材料特性の規格化のためには，標準測定法の確立が必要であるため，アモルファスの単板磁気特性試験法の規格も同時に検討されている．測定法の規格化には国際回送試験の実施が求められる．本稿では，製作した回送用アモルファス用単板磁気特性試験器（AM-SST）の概要，国内外13ヶ所で実施している回送試験の概要と現時点までの結果を報告する．

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 282 Kバイト