パワーMOSFETデバイスモデルに向けた自動モデルパラメータ決定手法に関する一検討
パワーMOSFETデバイスモデルに向けた自動モデルパラメータ決定手法に関する一検討
カテゴリ: 全国大会
論文No: 4-002
グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集
発行日: 2015/03/05
タイトル(英語): A Case Study of Automatic Parameter Estimation for Power MOSFET Device Model
著者名: 新谷 道広(京都大学),廣本 正之(京都大学),佐藤 高史(京都大学)
著者名(英語): Michihiro Shintani((Graduate School of Informatics, Kyoto University),Masayuki Hiromoto((Graduate School of Informatics, Kyoto University),Takashi Sato((Graduate School of Informatics, Kyoto University)
キーワード: SiCパワーMOSFET|デバイスモデル|モデルパラメータ決定|焼きなまし法
要約(日本語): SiCパワーMOSFETの特性を最大限に引き出して回路設計を行うためには,SiCパワーMOSFETの動作を高精度に模擬したデバイスモデルを用いた回路シミュレーションが必要不可欠である.一般的に,デバイスモデルは複数の数式とモデルパラメータで表され,モデルパラメータの決定において,その多くは計測した電気特性から間接的に決定する必要がある.既存のパラメータ決定手法は非線形最小二乗法が用いられており,解の探索能力が初期値に大きく依存し,局所解に陥りやすいといった欠点がある.本稿では,焼きなまし法を用いたモデルパラメータ自動決定環境を構築し,市販SiCパワーMOSFETに対して適用した結果を示す.
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 276 Kバイト
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