IGBTのターンオフ動作におけるダイナミックアバランシェ現象と配線インダクタンスの影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-010

グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集

発行日: 2015/03/05

タイトル(英語): Influence of Dynamic Avalanche phenomenon and parasitic inductance in turn-off operation of IGBTs

著者名: 瀧本 和靖(東芝),竹中 浩(東芝),田井 裕通(東芝),大部 利春(東芝)

著者名(英語): Kazuyasu Takimoto(Toshiba Corporation),Hiroshi Takenaka(Toshiba Corporation),Hiromichi Tai(Toshiba Corporation),Toshiharu Ohbu(Toshiba Corporation)

キーワード: IGBT|ターンオフ|ダイナミックアバランシェ|配線インダクタンス

要約(日本語): IGBTのターンオフ動作におけるダイナミックアバランシェ現象と配線インダクタンスの影響の検討結果に関する。ダイナミックアバランシェ特性を模擬した回路シミュレーションモデル構築と、構造解析から求まる配線インダクタンスモデルの導入によって、ダイナミックアバランシェ発生時の電流アンバランスについて、実測と解析で傾向がよく一致することを確認した。以上により、ダイナミックアバランシェ発生時の電流分担に、配線インダクタンスが影響することを回路解析および構造解析を用い明らかにした。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 357 Kバイト