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ME化配電盤内の温度分布と劣化に関する調査

ME化配電盤内の温度分布と劣化に関する調査

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-138

グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集

発行日: 2015/03/05

タイトル(英語): Study of operating temperature and deterioration for ME distribution cubicle

著者名: 伊東 和彦(西日本旅客鉄道),田中 弘毅(西日本旅客鉄道),山野井 隆(西日本旅客鉄道),川原 敬治(西日本旅客鉄道),田中 憲(三菱電機),西川 孝雄(三菱電機)

著者名(英語): Kazuhiko Ito(West Japan Railway Company),Hiroki Tanaka(West Japan Railway Company),Tanashi Yamanoi(West Japan Railway Company),Keiji Kawahara(West Japan Railway Company),Ken Tanaka(Mitsubishi Electric Corporation),Takao Nishikawa(Mitsubishi Electric Corporation)

キーワード: ME化配電盤|アルミ電解コンデンサ|劣化|温度

要約(日本語): 電鉄用変電所のME化配電盤に用いられている電子機器は予防保全を前提に設備更新を行っているため、実際に機能を失う寿命が定かではない。そこで、最適な取替寿命を把握するために、長年使用してきた電子機器の撤去品調査を実施して、実使用環境で劣化が顕著な部位がアルミ電解コンデンサであることを確認した。あわせて、ME化配電盤内で使用している電子機器にはその種類や取り付け位置によって使用温度差があることを確認した。そこで、今回、電子機器の使用温度差が実装されているアルミ電解コンデンサの劣化に与える影響について確認したところ、その使用温度に依存して劣化が進行する傾向にあることがわかった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 202 Kバイト

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