PVモジュールのバイパスダイオード故障検出－太陽電池の表面温度変化－

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-038

グループ名: 【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集

発行日: 2015/03/05

タイトル(英語): Basic Examination of Trouble Detection in PV System - Surface temperature change of the solar battery -

著者名: 加瀬 亮一(日本大学),長尾 力(日本大学),西川 省吾(日本大学)

著者名(英語): Ryoichi Kase(Nihon University),Chikara Nagao(Nihon University),Shogo Nishikawa(Nihon University)

キーワード: 太陽電池|バイパスダイオード|故障検出

要約(日本語): 太陽電池モジュールの端子箱に接続されている「バイパスダイオード（以下、Bダイオード）」が短絡故障すると、モジュールの電圧が低下し、出力が小さくなる。また、現状の検出技術ではストリング内における異常モジュールの特定ができない、複数のストリングを同時に計測できないなどの課題がある。そのため、簡易で検出の時間が短時間ですむ故障検出方法が必要である。 Bダイオードの故障は「短絡」がほとんどのため、本稿ではBダイオードの故障は「短絡」を想定し、太陽電池表面の温度変化をサーモカメラにより観察することで、Bダイオードの故障部分を検出する方法について検討したので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 572 Kバイト