電子線照射フッ素系絶縁材料の内部帯電解析

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-034

グループ名: 【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集

発行日: 2016/03/05

タイトル(英語): Internal Charge Analysis in Electron Beam Irradiated Ethylene-tetrafluoroethylene Copolymer under DC High Stress

著者名: 吉田 周吾(東京都市大学),永瀬 崇浩(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学)

著者名(英語): Shugo Yoshida(Tokyo City University),Takahiro Nagase(Tokyo City University),Hiroaki Miyake(Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City University)

キーワード: パルス静電応力法,空間電荷分布,電子線,ETFE

要約(日本語): 宇宙機はヴァン・アレン帯で運用されており、電子や陽子などに直接曝されることで、宇宙機表面で帯電・放電現象が発生する。放電現象が生じることで材料の劣化や搭載機器の誤作動等の事故が発生し、宇宙機事故に発展する危険性がある。そのため、宇宙機設計段階から構成材料の電気的特性が重要となる。本研究では、OSRやワイヤーハーネスに用いられるフッ素系絶縁材料に電子線を照射し、直流高電界下での空間電荷蓄積特性をPEA法により評価している。今回、ETFEに加速エネルギーが異なる電子線を照射し、電子線照射試料の照射面側に電荷注入障壁を挿入することで、電子線の加速エネルギーと試料内部に生成される電子正孔対の生成量の関係を確認した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 320 Kバイト