宇宙機用絶縁材料用二次電子放出係数測定システムの改良

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-061

グループ名: 【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集

発行日: 2016/03/05

タイトル(英語): Construction of Secondary Electron Emission Yield Measurement System in Spacecraft for Insulating Material

著者名: 小玉 一貴(東京都市大学),谷口 大明(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学),大平 正道(宇宙航空研究開発機構),奥村 哲平(宇宙航空研究開発機構),川北 史朗(宇宙航空研究開発機構),高橋 真人(宇宙航空研究開発機構)

著者名(英語): Kazuki Kodama(Tokyo City University),Hiroaki Taniguchi(Tokyo City University),Hiroaki Miyake(Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City University),Masamichi Ohira(JAXA),Teppei Okumura(JAXA),Shirou Kawakita(JAXA),Masato Takahashi(JAXA)

キーワード: 二次電子放出係数,宇宙機帯電,電子線

要約(日本語): 宇宙機は宇宙空間に存在する電子線などの放射線により表面材料において帯電・放電をし、これらは運用異常の一因となっている。そこで現在、国内の衛星開発では設計段階にて二次電子放出係数(SEEY)などの帯電に関する物性値を用いた帯電解析がなされている。これまで、本研究グループでは300 eV ~ 10 keVという一次電子エネルギーEp範囲でSEEY測定を行ってきた。Epに対するSEEYを表した二次電子放出特性は、ピークを持ったカーブを描く。一般的にピークは低Epにて現れることから、更に低いEp範囲でのSEEY測定が求められる。今回、既存の測定システムを改良し、更に低いEpでのSEEY測定が可能なシステムを構築したので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 332 Kバイト