1200V系IGBT／FRDの高温動作に向けたシミュレーションによる漏れ電流の考察

カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-016

グループ名: 【全国大会】平成28年電気学会全国大会論文集

発行日: 2016/03/05

タイトル(英語): Study of Leakage Current Using Simulation for 1200V IGBTs/FRDs High Temperature Operation

著者名: 花形 祥子(東芝),松下 憲一(東芝)

著者名(英語): Shoko Hanagata(Toshiba Corporation),Kenichi Matsushita(Toshiba Corporation)

キーワード: 高温動作,IGBT,ダイオード,シミュレーション,漏れ電流

要約(日本語): HEV / EV（Hybrid / Electric Vehicle）のインバータに用いられているIGBTやダイオードは、冷却系の簡素化のため、動作温度を現在の150℃から可能な限り高温にすることが求められている。高温動作においては、温度上昇に伴う漏れ電流増加の抑制が重要であるが、従来のシミュレーションモデルでは計算結果が実測の漏れ電流値と一致しなかった。そこで今回は、漏れ電流を求める際の再結合速度の算出に、トラップ準位密度やトラップ準位エネルギーの値を導入したところ、高温度域におけるダイオードの漏れ電流の実測値を再現することが出来た。この時実測に合わせたシミュレーションモデルを用いて、実デバイスの構造を加味した漏れ電流の計算を実施し、実際のダイオード構造の高温動作について議論する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 338 Kバイト